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能量色散型和波长色散型的特点

能量色散和波长色散检测方法各有其特点，必须根据应用适当选择。

1.能量色散型

能量色散型不需要光谱学，可以小型化，因为半导体探测器可以直接分析荧光X射线的波长。此外，无需光谱仪即可同时进行多种类型的元素分析，从而可以在短时间内进行测量。它有时与电子显微镜等结合使用，因为无论样品的形状或不均匀性如何，它都可以进行测量。

另一方面，也存在所得光谱的峰容易重叠、分辨率低、难以检测测定对象物中微量存在的元素等缺点。

2. 波长色散型

在波长色散型中，使用分光晶体分离荧光X射线并使用检测器进行测量。由于光谱是使用波长进行的，因此可以轻松分离相邻的峰，并且往往具有高灵敏度和分辨率。

另一方面，由于其具有复杂的光谱系统，设备本身往往较大且昂贵。另外，由于测量是在改变衍射角的同时进行的，因此比能量色散型测量需要更长的时间，并且样品表面必须光滑。