公司新闻

X射线分析仪原理

2024-09-10 09:37:32 admin 0

X射线分析仪用X射线照射物体并测量所发射的荧光X射线的波长(或能量)和强度。


当物质受到X射线照射时,其原子吸收能量,被激发,并发射荧光X射线。由于每种元素的荧光 X 射线的波长(或能量)都是唯一的,因此还可以根据检测到的荧光 X 射线光谱的波长来识别物质的类型,并根据其强度对其进行量化。


X 射线分析仪由产生 X 射线的 X 射线源、容纳样品的样品室以及对产生的荧光 X 射线进行光谱检测的检测单元组成。


X射线源通过用通过施加高电压产生的电子束照射诸如钨之类的目标来产生X射线。产生的 X 射线照射到样品的顶面或底面。此时,您可以选择样品室中的气氛,例如空气、氮气或真空。


此外,如果使用带有样品观察模式的X射线分析仪,您可以在观察样品的同时选择照射位置。检测器检测来自样品发射的元素的荧光 X 射线并进行定性分析。在定量分析中,测量荧光X射线的强度,并使用校准曲线和基本参数法(FP法)来确定含量。


X射线分析仪有两种类型的光谱和检测方法:波长色散和能量色散。