TOPCON拓普康 池田屋 近红外分光辐射计 SR-NIR 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。
TOPCON拓普康 池田屋 近红外分光辐射计 SR-NIR 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。技术规格光亮采集电子冷却型线性阵列传感器波长分散原理衍射光栅光学系统对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5°测定角2°/1°/0.2°/0.1° (电动切换式)最小测定直径(mmφ)2° : 10.0, 1° : 4.99, 0.2° : 1.00, 0.1° : 0.50
TOPCON拓普康 池田屋 近红外分光辐射计 SR-NIR 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。
技术规格
| 光亮采集 | 电子冷却型线性阵列传感器 |
|---|---|
| 波长分散原理 | 衍射光栅 |
| 光学系统 | 对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5° |
| 测定角 | 2°/1°/0.2°/0.1° (电动切换式) |
| 最小测定直径(mmφ) | 2° : 10.0, 1° : 4.99, 0.2° : 1.00, 0.1° : 0.50 (毫米φ) |
| 测定距离 | 350mm – ∞ (从物镜金属件前端开始的距离) |
| 测定波长范围 | 600 – 1030纳米 |
| 光谱波宽 | 6 – 8nm (半波宽) |
| 波长分解能力 | 1纳米 |
| 测定模式 | 自动/手动 (积分时间/频率）、外部垂直同步信号输入 |
| 测定内容 | 分光辐射亮度 : W･sr-1･m-2･nm-1 |
| 测定范围(*1) | 2.0° : 0.5 – 3,000 坎德拉/平方米1.0 ° : 1 – 9,000 坎德拉/平方米0.2 ° :20 – 70,000 坎德拉/平方米0.1 ° : 100 – 300,000 坎德拉/平方米 |
| 重复精度(*2) | ±2%以下 |
| 偏振特性 | 分光辐射亮度 5％ 以下 |
| 校正基准 | 本公司校正基准*标准A光源、23℃±3℃、65% RH以下 |
| 测定时间(*3) | 约 1 – 31 秒 |
| 界面 | RS-232C、USB 2.0 |
| 电源 | 专用AC电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz, |
| 功率 | 约 34W |
| 使用条件 | 温度: 5 – 35℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露) |
| 外形尺寸(W×D×H) | 150×406×239毫米 |
| 质量 | 约 5.5kg |