FUJIKOSHI不二越 池田屋 使用红外光非接触式、非破坏性地测量厚度OCTnano
FUJIKOSHI不二越 池田屋 使用红外光非接触式、非破坏性地测量厚度OCTnano我们使用红外光非接触式、非破坏性地测量厚度。 ☆如果是透过红外光的材料，则可以在不变形的情况下测量厚度。☆可以测量多层。☆测量距离可任意设定，可达约1000mm。可保持0.1μm的测量精度☆我们将考虑测量环境、测量对象和使用条件提出最佳系统。
FUJIKOSHI不二越 池田屋 使用红外光非接触式、非破坏性地测量厚度OCTnano
我们使用红外光非接触式、非破坏性地测量厚度。
☆如果是透过红外光的材料，则可以在不变形的情况下测量厚度
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☆可以测量多层。
☆测量距离可任意设定，可达约1000mm。可保持0.1μm的测量精度
☆我们将考虑测量环境、测量对象和使用条件提出最佳系统。
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☆可以测量多层。
☆测量距离可任意设定，可达约1000mm。可保持0.1μm的测量精度
☆我们将考虑测量环境、测量对象和使用条件提出最佳系统。