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EMIC爱美克 池田屋 JIS-A型标准试件 型号:STP-1

EMIC爱美克 池田屋 JIS-A型标准试件 型号:STP-1概述标准试件的目的是客观评价磁粉探伤的灵敏度和准确性,此外,设备、磁粉、测试液的性能也是影响探伤灵敏度和准确度的因素,它用于检查影响被测表面的磁场强度和方向,以及测试操作的适宜性。A型标准试件的设计确保在待检测缺陷的方向上形成磁粉图案。磁化方法、磁化电流值、磁性粒子的使用方法、测试液中磁性粒子的浓度等。用于通过检查磁粉图案来保持探伤

EMIC爱美克  池田屋 JIS-A型标准试件  型号:STP-1

概述

标准试件的目的是客观评价磁粉探伤的灵敏度和准确性,


此外,设备、磁粉、测试液的性能也是影响探伤灵敏度和准确度的因素,


它用于检查影响被测表面的磁场强度和方向,以及测试操作的适宜性。


A型标准试件的设计确保在待检测缺陷的方向上形成磁粉图案。


磁化方法、磁化电流值、磁性粒子的使用方法、测试液中磁性粒子的浓度等。


用于通过检查磁粉图案来保持探伤精度。


试件为一面刻有凹槽的纯铁薄板,其类型由凹槽的深度决定,


根据板材的材质和板材的厚度不同,分为几种类型。


特征

使用时应保证凹槽面与探伤面紧密接触。


用合适的胶带固定。此时待粘贴的测试面为


表面必须使得样品的整个表面都可以与其紧密接触。


A型标准试件是日本无损检测协会规定的试件。


如果形状、尺寸或材料与首次获得时相比有任何变化,请勿使用。