日本精品 SANKO山高 ITX-S75DT X射线异物检测
SANKO山高 ITX-S75DT X射线异物检测规格皮带速度15m/分钟（10m/分钟）*皮带宽度750毫米工作温度温度0-40℃，湿度30-85%，无凝结工作温度2个方向，同时2个屏幕检验范围梯形底边 740mm顶边 499mm高度 320mm检验项目长度400mm（短鞋、配饰）- 2200mm（婚纱、长外套）最小成像能力SUS球φ0.3mm、SUS丝φ0.2×2mm、玻璃球φ1.0
SANKO山高 ITX-S75DT X射线异物检测
规格
皮带速度
15m/分钟（10m/分钟）*
皮带宽度
750毫米
工作温度
温度0-40℃，湿度30-85%，无凝结
工作温度
2个方向，同时2个屏幕
检验范围
梯形
底边 740mm
顶边 499mm
高度 320mm
底边 740mm
顶边 499mm
高度 320mm
检验项目长度
400mm（短鞋、配饰）- 2200mm（婚纱、长外套）
最小成像能力
SUS球φ0.3mm、SUS丝φ0.2×2mm、玻璃球φ1.0mm、陶瓷球φ1.6mm
图像处理功能
轮廓增强、LUT处理（使用附带的测试片设置）、各种颜色显示、负/正反转、瞬间局部放大、图像滚动
安全
X射线泄漏：1μSv/h以下（无需许可证），具有联锁机构
使用电源
AC100V ±10% 50/60Hz、1kVA以下（功耗）
飞机尺寸
2010(W)×1930(H)×1102(D)mm（不含巡逻灯）