池田屋SANKO山高 SF-1150 SF罐超声波测厚仪
SANKO山高 SF-1150SF罐超声波测厚仪规格测量方法脉冲反射法（一探头法）测量范围1.0~50.0mm模式自动切换（标准/厚板）显示方式LCD数字（带EL照明）测量精度±0.1毫米声速调节范围500～9999米/秒使用频率1~2MHz电源1节AA碱性电池（1.5V）约12小时（EL开启时约8小时）工作温度-10~50℃（无凝露）飞机尺寸66(宽)×180(高)×28(深)㎜重量360克探
SANKO山高 SF-1150
SF罐超声波测厚仪
规格
测量方法
脉冲反射法（一探头法）
测量范围
1.0~50.0mm
模式自动切换（标准/厚板）
模式自动切换（标准/厚板）
显示方式
LCD数字（带EL照明）
测量精度
±0.1毫米
声速调节范围
500～9999米/秒
使用频率
1~2MHz
电源
1节AA碱性电池（1.5V）
约12小时（EL开启时约8小时）
约12小时（EL开启时约8小时）
工作温度
-10~50℃（无凝露）
飞机尺寸
66(宽)×180(高)×28(深)㎜
重量
360克
探测
2C20N-DL型