日本直供 SANKO山高 SWT-NEO-N 涡流膜厚计
SANKO山高 一件代发 SWT-NEO-N涡流膜厚计规格测量范围0~2.00mm显示方式LCD数字、显示保持显示分辨率1μm:0-999μm切换0.1μm:0-400μm0.5μm:400-500μm0.01mm:1.00-2.00mm测量精度(垂直于光滑表面测量)均匀表面上0~100μm:±1μm或显示值的±2%101μm~2.00mm:±2%以内校准曲线记忆×1电源AA 碱性电池 (1
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SANKO山高 一件代发 SWT-NEO-N
涡流膜厚计