池田屋 SANKO山高 SM-Pen 电磁模拟膜厚计
SANKO山高 SM-Pen电磁模拟膜厚计特征尖端配备超细磁极的笔型探头。现在可以测量小零件和狭窄空间。规格测量范围0~300μm 0~5mm（2排刻度）测量精度均匀表面上±2μm或指示值的±5%电源AAA 电池 (1.5V) x 6工作温度0～40℃（无凝结）飞机尺寸105（宽）×48（高）×165（深）毫米重量500克配件标准厚板、表盘盖、储物盒探测笔式φ11×130mm，CVD磁极：φ2
SANKO山高 SM-Pen
电磁模拟膜厚计
特征
尖端配备超细磁极的笔型探头。
现在可以测量小零件和狭窄空间。
规格
测量范围
0~300μm 0~5mm（2排刻度）
测量精度
均匀表面上±2μm或指示值的±5%
电源
AAA 电池 (1.5V) x 6
工作温度
0～40℃（无凝结）
飞机尺寸
105（宽）×48（高）×165（深）毫米
重量
500克
配件
标准厚板、表盘盖、储物盒
探测
笔式φ11×130mm，CVD磁极：φ2.6×4.5mm