日本爆款SANKO山高 SL-200E 电磁模拟膜厚仪
SANKO山高 SL-200E电磁模拟膜厚仪特征小探头适用于测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面的局部涂层厚度。规格测量范围Ⅰ：0~50μm Ⅱ：0~500μm测量精度均匀表面上±1μm或指示值的±2%电源DC：AA 电池 (1.5V) x 8AC：100V，50/60Hz（使用交流适配器）工作温度0～40℃（无凝结）飞机尺寸190(宽)×90(高)×120(深)毫米重量1.8公斤配件标
SANKO山高 SL-200E
电磁模拟膜厚仪
特征
小探头适用于测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面的局部涂层厚度。
规格
测量范围
Ⅰ：0~50μm Ⅱ：0~500μm
测量精度
均匀表面上±1μm或指示值的±2%
电源
DC：AA 电池 (1.5V) x 8
AC：100V，50/60Hz（使用交流适配器）
AC：100V，50/60Hz（使用交流适配器）
工作温度
0～40℃（无凝结）
飞机尺寸
190(宽)×90(高)×120(深)毫米
重量
1.8公斤
配件
标准厚板、AC适配器、肩包
探测
2极型，磁极直径φ2.5，磁极间距5mm
尺寸：10(W) x 17(H) x 21(D)mm
尺寸：10(W) x 17(H) x 21(D)mm