SANKO山高 SWT-NEOⅡ 双型膜厚仪 池田屋
SANKO山高 SWT-NEOⅡ 双型膜厚仪 池田屋 特征可根据测量目的选择连接探头。液晶显示屏上显示引导操作流程。大容量测量值存储器(NEOⅡ:20,000点,NEOⅢ:40,000点)。通过注册校准曲线轻松调用测量内置上下限设置及统计计算功能。数据可以通过USB连接传输到计算机。内置指定低功率无线输出(NEO-III)。倾斜支架目的喷漆/衬里/电镀防蚀铝等绝缘膜规格测量范围取决于连接探头(
SANKO山高 SWT-NEOⅡ 双型膜厚仪 池田屋 特征可根据测量目的选择连接探头。液晶显示屏上显示引导操作流程。大容量测量值存储器(NEOⅡ:20,000点,NEOⅢ:40,000点)。通过注册校准曲线轻松调用测量内置上下限设置及统计计算功能。数据可以通过USB连接传输到计算机。内置指定低功率无线输出(NEO-III)。倾斜支架目的喷漆/衬里/电镀防蚀铝等绝缘膜规格测量范围取决于连接探头(
SANKO山高 SWT-NEOⅡ 双型膜厚仪 池田屋
特征
可根据测量目的选择连接探头。
液晶显示屏上显示引导操作流程。
大容量测量值存储器(NEOⅡ:20,000点,NEOⅢ:40,000点)。
通过注册校准曲线轻松调用测量
内置上下限设置及统计计算功能。
数据可以通过USB连接传输到计算机。
内置指定低功率无线输出(NEO-III)。
倾斜支架
目的
喷漆/衬里/电镀
防蚀铝等绝缘膜